【摘 要】目的：比较根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率。方法：选取我院口腔科于2009年12月-2012年12月间拔除的106颗离体上颌第一磨牙作为研究对象，随机分为S组与D组，每组各53颗。S组采用改良开髓口，根管显微镜下探查寻找MB2，计算和统计发现率；D组则将53颗牙制成透明标本，观察近颊根的解剖形态，并通过根管显微镜查找MB2，计算和统计发现率，对两组试验的发现率进行分析比较。结果：在改良开髓口根管显微镜条件下，S组中共计在42颗牙下发现MB2，S组的发现率为79.25%，D组中共计在45颗牙下发现MB2，D组的发现率为84.91%，两组比较差异无统计学意义(P>0.05)。结论：使用根管显微镜MB2的发现率与实际发生率相接近。

    【关键词】根管显微镜；离体上颌；第一磨牙；第二根管；发现率

    【中图分类号】R781 【文献标识码】A 【文章编号】1004—7484(2013)10—0071—01

    由于我们日常饮食及生活习惯的改变等原因，牙科患者也越来越多。牙病的原因又主要以根管问题居多。在临床治疗的时候往往要对根管系统进行彻底的清理和严密的充填，这也是在根管的临床治疗中最关键的部分。如果没有清理干净 ......